ترجمه مقاله کاربردهای میکروسکوپ الکترونی روبشی در علوم زمین - نشریه اشپرینگر

قیمت خرید این محصول

۱۳۲,۰۰۰ تومان

دانلود رایگان نمونه دانلود مقاله انگلیسی

عنوان فارسی

کاربردهای میکروسکوپ الکترونی روبشی در علوم زمین

عنوان انگلیسی

Applications of scanning electron microscopy in earth sciences

صفحات مقاله فارسی

18

صفحات مقاله انگلیسی

11

سال انتشار

2015

نشریه

اشپرینگر - Springer

فرمت مقاله انگلیسی

PDF

فرمت ترجمه مقاله

ورد تایپ شده

رفرنس

دارد

کد محصول

7751

وضعیت ترجمه عناوین تصاویر

ترجمه شده است

وضعیت ترجمه متون داخل تصاویر

ترجمه نشده است

رشته های مرتبط با این مقاله

زمین شناسی و فیزیک

مجله

علوم زمین - Earth Sciences

دانشگاه

آزمایشگاه میکروسکوپ الکترونی، دانشکده فیزیک، دانشگاه پکن، چین

کلمات کلیدی

میکروسکوپ الکترونی اسکن، آشکارساز سیگنال، مواد معدنی

۰.۰ (هنوز امتیازی ثبت نشده است)

فهرست مطالب

1. اصل اساسی SEM
1.1. ساختار اصلی و طرز کار SEM
1.2. انواع و ویژگیهای سیگنال در SEM
1.3. معرفی مختصر کاربرد SEM در علوم زمین
2. مشخصه های BSE و کاربرد آن در علوم زمین
2.1. مشخصه های BSE
2.2. کاربرد BSE در علوم زمین
3. مشخصه های الکترون ثانویه و کاربرد آن در علوم زمین
3.1. مشخصه های الکترون ثانویه
3.2. کاربرد تصویربرداری الکترون ثانویه در علوم زمین
4. ویژگی اشعه های X مشخصه عنصر و کاربرد آن در علوم زمین
4.1. ویژگی اشعه های X مشخصه عنصر
4.2. کاربرد EDS در علوم زمین
5. ویژگی های CL و کاربرد آن در علوم زمین
5.1. ویژگی های CL
5.2. کاربرد CL در علوم زمین
6. ویژگی های EBSD و کاربرد آن در علوم زمین
6.1. ویژگیهای EBSD
6.2. کاربرد EBSD در علوم زمین
7. نتیجه گیری

نمونه چکیده متن اصلی انگلیسی

This paper expounds upon the basic principle of scanning electron microscopy (SEM), the main features of image types, and different signals, and the applications and prospects in earth sciences research are reviewed. High-resolution field emission SEM allows observation and investigation of a very fine micro area in situ. Using low-vacuum mode SEM, geological insulating samples can be analyzed directly without coating, demonstrating the wide application prospect. Combined with backscatter detector (BSE), energy dispersal X-ray spectroscopy (EDS), cathodoluminescence spectrometry (CL), and electron back-scattering diffraction (EBSD), SEM can yield multiple types of information about geological samples at the same time, such as superficial microstructure, CL analysis, BSE image, component analysis, and crystal structure features. In this paper, we use examples to discuss the geological application of SEM. We stress that we should not only focus on the CL image analysis, but strengthen CL spectrum analyses of minerals. These results will effectively reveal the mineral crystal lattice defects and trace element composition and can help to reconstruct mineral growth conditions precisely.

نمونه چکیده ترجمه متن فارسی

این مقاله اصل اساسی میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) ، ویژگیهای اصلی انواع تصویر و سیگنال های مختلف را تشریح کرده و به مرور کاربردها و چشم اندازهای آن در تحقیقات علوم زمین می پردازد. SEM با وضوح بالای نشر میدانی ، مشاهده و بررسی در جای یک ناحیه بسیار کوچک را امکانپذیر می سازند. با استفاده از SEM در حالت خلا کم ، می توان نمونه های عایق زمین شناسی را مستقیما بدون پوشش تحلیل کرد که این امر نشان دهنده چشم انداز کاربردی گسترده ای می باشد. SEM ترکیب شده با ردیاب به عقب رانده شده (BSE) ، طیف سنجی اشعه X پراکندگی انرژی (EDS) ، طیف سنجی کاتودولومینسنس (CL) و انکسار الکترون های به عقب رانده شده (EBSD) ، قادر به تهیه همزمان اطلاعات مختلف درباره نمونه های زمین شناسی مانند ریزساختار سطحی ، تحلیل CL ، تصویر BSE تحلیل مولفه و ویژگیهای ساختار بلوری می باشد. در این مقاله ، با استفاده از چند مثال به بحث درباره کاربرد SEM در زمین شناسی می پردازیم. تاکید می کنیم که تمرکز ما نباید فقط بر تحلیل تصویر CL باشد بلکه تقویت تحلیل های طیفی CL مواد معدنی را نیز باید در نظر گرفت. این نتایج به طور موثری نقص های شبکه کریستال مواد معدنی را آشکار کرده ، ترکیب عنصر را نشان داده و می تواند به بازسازی دقیق شرایط رشد مواد معدنی کمک کند.