ترجمه مقاله خصوصیات نوری فیلم های نازک تلورید کادمیوم تبخیر شده به روش حرارتی – نشریه الزویر

عنوان فارسی: | خصوصیات نوری فیلم های نازک تلورید کادمیوم تبخیر شده به روش حرارتی |
عنوان انگلیسی: | Optical properties of thermally evaporated cadmium telluride thin films |
تعداد صفحات مقاله انگلیسی : 7 | تعداد صفحات ترجمه فارسی : 13 (شامل 1 صفحه رفرنس انگلیسی) |
سال انتشار : 2003 | نشریه : الزویر - Elsevier |
فرمت مقاله انگلیسی : PDF | فرمت ترجمه مقاله : ورد تایپ شده و pdf |
نوع مقاله : ISI | نوع نگارش : مقالات پژوهشی (تحقیقاتی) |
پایگاه : اسکوپوس | نوع ارائه مقاله : ژورنال |
ایمپکت فاکتور(IF) مجله : 2.877 در سال 2018 | شاخص H_index مجله : 132 در سال 2019 |
شاخص SJR مجله : 0.650 در سال 2018 | شناسه ISSN مجله : 0254-0584 |
شاخص Q یا Quartile (چارک) : Q2 در سال 2018 | کد محصول : 9736 |
محتوای فایل : zip | حجم فایل : 952.61Kb |
رشته و گرایش های مرتبط با این مقاله: فیزیک و شیمی، شیمی کاربردی، شیمی فیزیک، فیزیک کاربردی، فیزیک گرایش مواد |
مجله: مواد شیمی و فیزیک - Materials Chemistry and Physics |
دانشگاه: آزمایشگاه فیلم نازک، گروه فیزیک، دانشکده Pratap، هند |
کلمات کلیدی: تبخیر حرارتی، خصوصیات نوری، گاف باند، XRD |
کلمات کلیدی انگلیسی: Thermal evaporation - Optical properties - Band gap - XRD |
وضعیت ترجمه عناوین تصاویر و جداول: ترجمه شده است ✓ |
وضعیت ترجمه متون داخل تصاویر و جداول: ترجمه نشده است ☓ |
وضعیت ترجمه منابع داخل متن: درج نشده است ☓ |
وضعیت فرمولها و محاسبات در فایل ترجمه: به صورت عکس، درج شده است ✓ |
بیس: نیست ☓ |
مدل مفهومی: ندارد ☓ |
پرسشنامه: ندارد ☓ |
متغیر: ندارد ☓ |
رفرنس: دارای رفرنس در داخل متن و انتهای مقاله |
رفرنس در ترجمه: در انتهای مقاله درج شده است |
doi یا شناسه دیجیتال: https://doi.org/10.1016/S0254-0584(02)00336-X |
چکیده
1. مقدمه
2. آزمایش
1. 2 رسوبدهی فیلم های CdTe
2. 2 خصوصیات فیلم ها
3. نتایج و بحث
4. نتایج
Abstract
Polycrystalline CdTe films have been deposited onto glass substrates at 373 K by vacuum evaporation technique. The transmittance and reflectance have been measured at normal and near normal incidence, respectively, in the spectral range 200–2500 nm. The dependence of absorption coefficient, α on the photon energy have been determined. Analysis of the result showed that for CdTe films of different thicknesses, direct transition occurs with band gap energies in the range 1.45–1.52 eV. Refractive indices and extinction coefficients have been evaluated in the above spectral range. The XRD analysis confirmed that CdTe films are polycrystalline having hexagonal structure. The lattice parameters of thin films are almost matching with the JCPDS 82-0474 data for cadmium telluride.
چکیده
فیلم های CdTe چند بلوری با استفاده از تکنیک تبخیردر خلاء در دمای 373 درجه کلوین برروی زیرلایه های شیشه رسوب داده اند (ته نشین شده اند). عبور ی و بازتابی به ترتیب در برخورد قائم ونزدیک به قائم، در دامنه طیفی 200–2500 nm اندازه گیری شدند. وابستگی ضریب جذب، α به انرژی فوتون تعیین شده است. تجزیه و تحلیل نتیجه بدست آمده نشان داد که برای فیلم های CdTe با ضخامت های مختلف، گذر مستقیم با انرژی گاف باند 1.45–1.52 eV رخ می دهد. ضرایب شکست و خاموشی در دامنه طیفی فوق مورد ارزیابی قرار گرفته اند. تحلیل XRD تائید نمود که فیلم های CdTe دارای ساختار چند بلوری و شش ضلعی هستند.در مورد تلورید کادمیوم، پارامترهای شبکه فیلم های نازک، با داده های JCPDS 82-0474 تقریباً مطابقت دارند.