ترجمه مقاله عیب یابی عملیاتی برای تنزل مطبوع سوئیچ های NoC - نشریه IEEE

قیمت خرید این محصول

۳۳,۰۰۰ تومان

دانلود رایگان نمونه دانلود مقاله انگلیسی

عنوان فارسی

عیب یابی عملیاتی برای تنزل مطبوع سوئیچ های NoC

عنوان انگلیسی

Functional Diagnosis for Graceful Degradation of NoC Switches

صفحات مقاله فارسی

17

صفحات مقاله انگلیسی

6

سال انتشار

2016

نشریه

آی تریپل ای - IEEE

فرمت مقاله انگلیسی

PDF

فرمت ترجمه مقاله

ورد تایپ شده

رفرنس

دارد

کد محصول

38

وضعیت ترجمه عناوین تصاویر و جداول

ترجمه شده است

وضعیت ترجمه متون داخل تصاویر و جداول

ترجمه نشده است

وضعیت فرمولها و محاسبات در فایل ترجمه

به صورت عکس، درج شده است

رشته های مرتبط با این مقاله

مهندسی کامپیوتر، فناوری اطلاعات و فناوری اطلاعات و ارتباطات

گرایش های مرتبط با این مقاله

سوئیچ، دیتا و امنیت شبکه، سخت افزار و شبکه های کامپیوتری

مجله

سی امین سمپزیوم آزمون آسیایی - 25th Asian Test Symposium

دانشگاه

اشتوتگارت، آلمان

کلمات کلیدی

تست عملیاتی، حالت خرابی عملیاتی، دسته‌بندی خطاها، عیب‌یابی عملیاتی، ایجاد الگو، پیکربندی مجدد دانه‌ریز

۰.۰ (بدون امتیاز)

امتیاز دهید

فهرست مطالب

چکیده
1. مقدمه
2. مقدمات
A. سوئیچ‌های NoC: ساختار و عملکرد
B. حالات خرابی عملیاتی
3. جریان عیب‌یابی
A. دیکشنری دسته بندی
B. الگوهای تست عملیاتی برای تفکیک پذیری عیب‌یابی بالا
C. تحلیل علائم برای پیکربندی مجدد
4. نتایج تجربی
A. دسته‌بندی
B. الگوهای تست عملیاتی
C. پیکربندی مجدد
V. نتیجه گیری

نمونه چکیده متن اصلی انگلیسی

Abstract

Reconfigurable Networks-on-Chip (NoCs) allow discarding the corrupted ports of a defective switch instead of deactivating it entirely, and thus enable fine-grained recon- figuration of the network, making the NoC structures more robust. A prerequisite for such a fine-grained reconfiguration is to identify the corrupted port of a faulty switch. This paper presents a functional diagnosis approach which extracts structural fault information from functional tests and utilizes this information to identify the broken functions/ports of a defective switch. The broken parts are discarded while the remaining functions are used for the normal operation. The non-intrusive method introduced is independent of the switch architecture and the NoC topology and can be applied for any type of structural fault. The diagnostic resolution of the functional test is so high that for nearly 64% of the faults in the example switch only a single port has to be switched off. As the remaining parts stay completely functional, the impact of faults on throughput and performance is minimized.

نمونه چکیده ترجمه متن فارسی

چکیده
شبکه‌روی تراشه (NoC) با قابلیت پیکربندی مجدد امکان دور انداختن پورت‌های خراب یک سوئیچ معیوب به جای غیرفعال کردن کامل آن را فراهم می‌سازد؛ بنابراین پیکربندی مجدد دانه‌ریز شبکه مقدور می شود و ساختارهای NoC را تنومند‌تر می‌کند.
این مقاله به ارائه‌ی یک رویکرد عیب‌یابی عملیاتی می‌پردازد که اطلاعات خطای ساختاری را از تست‌های عملیاتی استخراج کرده و از این اطلاعات برای شناسایی توابع/پورت‌های خراب یک سوئیچ معیوب استفاده می‌کند. بخش‌های خراب کنار گذاشته می‌شوند درحالیکه توابع باقی‌مانده برای عملکرد معمول مورد استفاده قرار می‌گیرند. این روش مستقل از معماری سوئیچ و توپولوژی NoC بوده و می‌توند برای هر نوع خطای ساختاری اعمال شود. تفکیک‌پذیری عیب‌یابی تست عملیاتی بسیار بالاست به‌گونه‌ای که تقریبا برای 64 درصد خطاها در سوئیچ فقط یک پورت باید خاموش شود. با عملیاتی ماندن بقیه‌ی بخش‌ها، تأثیر خطاها بر توان‌عملیاتی و عملکرد به کمترین مقدار می‌رسد.

برچسب‌ها: دانلود رایگان مقالات انگلیسی مهندسی فناوری اطلاعات IT، دانلود رایگان مقالات انگلیسی مهندسی کامپیوتر، دانلود رایگان مقالات انگلیسی فناوری اطلاعات و ارتباطات ICT