تلفن: ۰۴۱۴۲۲۷۳۷۸۱
تلفن: ۰۹۲۱۶۴۲۶۳۸۴

ترجمه مقاله عیب یابی عملیاتی برای تنزل مطبوع سوئیچ های NoC – نشریه IEEE

عنوان فارسی: عیب یابی عملیاتی برای تنزل مطبوع سوئیچ های NoC
عنوان انگلیسی: Functional Diagnosis for Graceful Degradation of NoC Switches
تعداد صفحات مقاله انگلیسی : 6 تعداد صفحات ترجمه فارسی : 17
سال انتشار : 2016 نشریه : آی تریپل ای - IEEE
فرمت مقاله انگلیسی : PDF فرمت ترجمه مقاله : ورد تایپ شده
کد محصول : 38 رفرنس : دارد
محتوای فایل : zip حجم فایل : 3.17Mb
رشته های مرتبط با این مقاله: مهندسی کامپیوتر، فناوری اطلاعات و فناوری اطلاعات و ارتباطات
گرایش های مرتبط با این مقاله: سوئیچ، دیتا و امنیت شبکه، سخت افزار و شبکه های کامپیوتری
مجله: سی امین سمپزیوم آزمون آسیایی - 25th Asian Test Symposium
دانشگاه: اشتوتگارت، آلمان
کلمات کلیدی: تست عملیاتی، حالت خرابی عملیاتی، دسته‌بندی خطاها، عیب‌یابی عملیاتی، ایجاد الگو، پیکربندی مجدد دانه‌ریز
وضعیت ترجمه عناوین تصاویر و جداول: ترجمه شده است
وضعیت ترجمه متون داخل تصاویر و جداول: ترجمه نشده است
وضعیت فرمولها و محاسبات در فایل ترجمه: به صورت عکس، درج شده است
ترجمه این مقاله با کیفیت عالی آماده خرید اینترنتی میباشد. بلافاصله پس از خرید، دکمه دانلود ظاهر خواهد شد. ترجمه به ایمیل شما نیز ارسال خواهد گردید.
فهرست مطالب

چکیده

1. مقدمه

2. مقدمات

A. سوئیچ‌های NoC: ساختار و عملکرد

B. حالات خرابی عملیاتی

3. جریان عیب‌یابی

A. دیکشنری دسته بندی

B. الگوهای تست عملیاتی برای تفکیک پذیری عیب‌یابی بالا

C. تحلیل علائم برای پیکربندی مجدد

4. نتایج تجربی

A. دسته‌بندی

B. الگوهای تست عملیاتی

C. پیکربندی مجدد

V. نتیجه گیری

نمونه متن انگلیسی

Abstract

Reconfigurable Networks-on-Chip (NoCs) allow discarding the corrupted ports of a defective switch instead of deactivating it entirely, and thus enable fine-grained recon- figuration of the network, making the NoC structures more robust. A prerequisite for such a fine-grained reconfiguration is to identify the corrupted port of a faulty switch. This paper presents a functional diagnosis approach which extracts structural fault information from functional tests and utilizes this information to identify the broken functions/ports of a defective switch. The broken parts are discarded while the remaining functions are used for the normal operation. The non-intrusive method introduced is independent of the switch architecture and the NoC topology and can be applied for any type of structural fault. The diagnostic resolution of the functional test is so high that for nearly 64% of the faults in the example switch only a single port has to be switched off. As the remaining parts stay completely functional, the impact of faults on throughput and performance is minimized.

نمونه متن ترجمه

چکیده

شبکه‌روی تراشه (NoC) با قابلیت پیکربندی مجدد امکان دور انداختن پورت‌های خراب یک سوئیچ معیوب به جای غیرفعال کردن کامل آن را فراهم می‌سازد؛ بنابراین پیکربندی مجدد دانه‌ریز شبکه مقدور می شود و ساختارهای NoC را تنومند‌تر می‌کند.

این مقاله به ارائه‌ی یک رویکرد عیب‌یابی عملیاتی می‌پردازد که اطلاعات خطای ساختاری را از تست‌های عملیاتی استخراج کرده و از این اطلاعات برای شناسایی توابع/پورت‌های خراب یک سوئیچ معیوب استفاده می‌کند. بخش‌های خراب کنار گذاشته می‌شوند درحالیکه توابع باقی‌مانده برای عملکرد معمول مورد استفاده قرار می‌گیرند. این روش مستقل از معماری سوئیچ و توپولوژی NoC بوده و می‌توند برای هر نوع خطای ساختاری اعمال شود. تفکیک‌پذیری عیب‌یابی تست عملیاتی بسیار بالاست به‌گونه‌ای که تقریبا برای 64 درصد خطاها در سوئیچ فقط یک پورت باید خاموش شود. با عملیاتی ماندن بقیه‌ی بخش‌ها، تأثیر خطاها بر توان‌عملیاتی و عملکرد به کمترین مقدار می‌رسد.

محصولات مشابه